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ZEISS SPECTRUM II扫描仪

2020-08-26 13:35:00
ZEISS SPECTRUM II扫描仪
详细介绍:

ZEISS SPECTRUM II

主要性能

蔡司RDS-C5铰接探头底座,采用我们的XDT多点探头或Renishaw TP20触发探头。确保测量复杂位置的角度特征。铰接式探头底座提供双向+/- 180度旋转,允许5度台阶角度操作,可使探头达到5184个不同角度位置。

它也可以配置连接光谱和XDT直接测量一般棱镜特征。

CAA (computer aided Precision Correction,简称CAA)保证了对机床动态变形的计算机辅助误差补偿

机器技术

花岗岩台面为该测量机奠定了坚实的结构基础。

蔡司空气轴承,四面环绕,保证了更好的稳定性和测量精度。

控制柜、软件、探头等部件均采用先进的材料和技术,产品质量上乘。

标准的计算机独立控制面板允许您手动定位没有计算机,只是通过控制杆旁边的测量机。当CNC运行时,速度旋钮可随时控制速度。


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